涂層測厚方試

     漆膜性能的測試均應(yīng)在一定的漆膜厚度下進(jìn)行，因?yàn)槠崮ず穸仁瞧崮さ囊粋€(gè)重要指標(biāo)，它不僅影響制膜時(shí)所耗費(fèi)的材料、工時(shí)、成本，而且關(guān)系到漆膜的使用性能。

     漆膜厚度的測試方法很多，按其原理可分為稱量法、量具測量法、顯微鏡法、非破壞性儀器測量法等。以漆膜特性可分為干膜測厚和濕膜測厚。各種方法均有各自的特性和使用范圍。常用的厚度測試標(biāo)準(zhǔn)有GB1764-79《漆膜厚度測量法》、ISO2808《色漆和清漆——漆膜厚度的測定》、ASTMD1400-81《非磁性金屬底材上色漆、清漆、噴漆及有關(guān)產(chǎn)品的非金屬涂層干膜厚度的測定》、ASTME376-69《用磁性法或渦流法（電場法）測定涂層厚度》、ASTMD2691-70《木制品表面干膜厚度的顯微鏡測定》、ASTMG12-83《鋼管涂層厚度的非破壞性測量》、ASTMD1212-79《有機(jī)涂層濕膜厚度的測定》等等。

常用測厚儀測厚法的基本原理

      磁場型測厚儀的測厚是基于測量頭上的磁鐵與磁性地材之間的磁引力或磁通量隨兩者之間的距離變化而變化的原理，而該距離對于涂漆的磁性底材來說，將因非磁性的漆膜厚度的變化而變化。因此，此法只適用于磁性底材上非磁性漆膜厚度的測量。

      渦流型測厚儀的原理基于測量頭的線圈產(chǎn)生的交變磁場將使附近的金屬表面上因感應(yīng)而產(chǎn)生渦流。該渦流又引起感應(yīng)線圈表現(xiàn)阻抗的變化。這種效應(yīng)將隨探頭線圈到金屬表面的距離的變化而變化。當(dāng)測量頭線圈直接與干燥的漆膜接觸時(shí)，該距離大小將隨漆膜的厚度而變化。因此，檢測試樣表觀阻抗的大小，經(jīng)標(biāo)定后，可得到漆膜的厚度。根據(jù)此原理而設(shè)計(jì)的測厚儀只適用于漆膜與底材金屬兩者導(dǎo)電性相差很大的試樣。常用于非磁性金屬底材上的非導(dǎo)電漆膜厚度的測量。

GTJ-T100涂層測厚儀